Máy kiểm tra mối hàn QUADRA 7 Pro được Nordson phát triển cho các yêu cầu X-Ray 2D/3D độ phân giải rất cao, đặc biệt trong kiểm tra back-end semiconductor, advanced electronic packaging và SMT. Hệ thống kết hợp nguồn X-Ray Dual Mode, detector thế hệ mới và phần mềm xử lý hình ảnh chuyên dụng nhằm tăng khả năng quan sát các khuyết tật rất nhỏ bên trong sản phẩm.
Công nghệ nguồn X-Ray Dual Mode Quadra NT4®
Máy kiểm tra mối hàn QUADRA 7 Pro được trang bị nguồn X-Ray Dual Mode Quadra NT4® do Nordson phát triển. Hệ thống có khả năng tự động chuyển đổi giữa hai chế độ tùy theo đặc tính của mẫu kiểm tra:
High Resolution Mode tối ưu cho các mẫu semiconductor nhạy và các cấu trúc cực nhỏ cần độ phân giải cao.
High Flux Mode cung cấp lượng tia X lớn hơn, phù hợp khi kiểm tra các mẫu dày hoặc có mật độ vật liệu cao.
Nhờ Dual Mode, QUADRA 7 Pro có thể xử lý nhiều loại mẫu trên cùng một hệ thống, từ những cấu trúc semiconductor rất nhỏ đến các cụm điện tử có yêu cầu khả năng xuyên tia cao hơn.
Ultra High Resolution X-Ray
Máy kiểm tra mối hàn QUADRA 7 Pro được tối ưu cho khả năng tạo ảnh X-Ray độ phân giải siêu cao, cho phép quan sát những chi tiết và khuyết tật rất nhỏ bên trong linh kiện.
Nordson công bố khả năng Feature Recognition <100 nm khi vận hành dưới 10 W, đặc biệt hữu ích trong các ứng dụng phân tích semiconductor, BGA solder ball, microcrack và electronic packaging.
Cần lưu ý đây là thông số Feature Recognition, không nên diễn giải thành pixel resolution 0,1 µm.
Detector Onyx® 6.5 Megapixel
Detector Onyx® được Nordson phát triển riêng cho các yêu cầu kiểm tra độ phân giải cao. Detector trên QUADRA 7 Pro có độ phân giải 6.5 MP, pixel pitch 50 µm và tốc độ lên tới 30 fps.
Công nghệ Onyx được tối ưu cho độ nhạy ở liều X-Ray thấp và khả năng làm việc ở mức saturation dose cao, đồng thời cung cấp tốc độ khung hình cao và mức nhiễu thấp. Nhờ đó, hệ thống có thể tạo hình ảnh nhanh, rõ và hỗ trợ nhận diện các chi tiết nhỏ trong mẫu.
Kiểm tra X-Ray 2D/3D
Máy kiểm tra mối hàn QUADRA 7 Pro được thiết kế cho Manual X-Ray Inspection 2D/3D, cho phép kỹ sư không chỉ quan sát hình ảnh X-Ray thông thường mà còn thực hiện các phân tích nâng cao đối với cấu trúc bên trong sản phẩm.
Khả năng này đặc biệt hữu ích khi kiểm tra các cấu trúc có nhiều lớp hoặc bị chồng hình, phục vụ R&D, Process Engineering và Failure Analysis trong semiconductor và sản xuất điện tử.
Công nghệ X-Plane®
Với X-Plane, hệ thống có thể tạo các lớp cắt X-Ray tại khu vực cần phân tích mà không cần thực hiện destructive cross-section trên PCB hoặc linh kiện.
Thay vì chỉ nhìn toàn bộ các cấu trúc chồng lên nhau trên ảnh X-Ray 2D, kỹ sư có thể tập trung phân tích một lớp hoặc vùng cụ thể, hỗ trợ đánh giá chính xác hơn các mối hàn và cấu trúc bên trong sản phẩm.
Công nghệ Micro-CT – µCT
Máy kiểm tra mối hàn QUADRA 7 Pro có thể mở rộng với giải pháp µCT (Micro Computed Tomography) để tái tạo cấu trúc ba chiều của mẫu từ dữ liệu X-Ray.
µCT đặc biệt hữu ích trong Failure Analysis và R&D, khi kỹ sư cần quan sát cấu trúc bên trong theo không gian 3D, thực hiện virtual cross-section hoặc phân tích những khuyết tật mà hình ảnh 2D chưa thể hiện đầy đủ.
Phần mềm Revalution™
Máy kiểm tra mối hàn QUADRA 7 Pro sử dụng nền tảng phần mềm Revalution™ mới của Nordson, được phát triển cho các ứng dụng kiểm tra semiconductor cao cấp.
Revalution cung cấp giao diện GUI hiện đại và workflow được tối ưu, đồng thời tích hợp các công cụ như annotation, measurement, filtering và imaging. Điều này giúp kỹ sư thao tác, đo lường và phân tích dữ liệu X-Ray trực tiếp trên hệ thống thuận tiện hơn.
Công nghệ Filament-Free
Nguồn X-Ray QuadraNT™ sử dụng thiết kế filament-free, loại bỏ việc phải thay filament như trên một số nguồn X-Ray truyền thống.
Đây là một điểm quan trọng đối với hệ thống X-Ray công nghiệp vì giúp duy trì đặc tính vận hành ổn định và giảm các công việc bảo trì liên quan đến filament.
Oil-Free Ion Pump
QuadraNT còn sử dụng oil-free ion pump để duy trì môi trường chân không bên trong X-Ray tube.
Thiết kế không sử dụng dầu giúp loại bỏ yêu cầu thay dầu và giảm nguy cơ liên quan đến rò rỉ hoặc nhiễm dầu trong nguồn X-Ray. Kết hợp với công nghệ filament-free, Nordson hướng tới khả năng vận hành ổn định và giảm yêu cầu bảo trì của nguồn tia X.
Thiết kế tối ưu cho phân tích Semiconductor
Toàn bộ hệ thống từ Dual Mode Quadra NT4®, detector Onyx®, Revalution™ đến khả năng kiểm tra 2D/3D được Nordson tối ưu cho các ứng dụng cần quan sát chi tiết rất nhỏ.
QUADRA 7 Pro đặc biệt phù hợp cho back-end semiconductor, advanced packaging, PCB/PCBA mật độ cao và Failure Analysis, hỗ trợ kiểm tra các bất thường như microcrack trong BGA solder ball, lỗi mối hàn và các khuyết tật bên trong linh kiện mà phương pháp kiểm tra quang học khó quan sát.
